課程資訊
課程名稱
 積體電路系統測試
Vlsi System Testing 
開課學期
 104-2 
授課對象
 電機資訊學院  電子工程學研究所  
授課教師
 黃俊郎 
課號
 EEE5011 
課程識別碼
 943 U0110 
班次
  
學分
 3 
全/半年
 半年 
必/選修
 選修 
上課時間
 星期四7,8,9(14:20~17:20) 
上課地點
 博理214 
備註
 總人數上限：30人 
Ceiba 課程網頁
 http://ceiba.ntu.edu.tw/1042_VLSISysTesting 
課程簡介影片
 
核心能力關聯
 核心能力與課程規劃關聯圖
課程大綱
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
課程概述

本課程介紹積體電路系統測試及技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 

課程目標
 使學生熟悉積體電路測試之基礎概念、現狀及未來挑戰。 
課程要求
  
預期每週課後學習時數
  
Office Hours
  
指定閱讀
 1. “Essentials of Electronic Testing” 
Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
Kluwer Academic Publishers
2. “System-On-Chip Test Architectures” 
L.-T. Wang, C. E. Stroud, N. A. Touba 
Morgan Kaufmann Publishers
3. “High Performance Memory Testing”
R. Dean Adams, Kluwer Academic Publishers 
參考書目
  
評量方式
(僅供參考)
  
No.
項目
百分比
說明
1. 
 in-class/take-home assignment 
30% 
  
2. 
 exam 
40% 
 between midterm and final exam 
3. 
 project 
30% 
  
 
課程進度
週次
日期
單元主題
第1週
 2/25  01 Introduction 
第2週
 3/03  02 Fault Modeling I 
第3週
 3/10  03 Fault Model II
04 DfT I 
第4週
 3/17  04 DfT I (cont'd)
05 DfT II (Delay Test) 
第5週
 3/24  05 DfT II (cont'd)
06 DfT III (Test Compression) 
第6週
 3/31  06 DfT III (cont'd)
07 Memory Testing I 
第7週
 4/07  07 Memory Testing I (cont'd)
07 Memory Testing II 
第8週
 4/14  07 Memory Testing II (cont'd) 
第9週
 4/21  （期中考週）
08 Adaptive Testing 
第10週
 4/28  Project proposal presentation
09 AMS Testing 
第11週
 5/05  09 AMS Testing (cont'd) 
第12週
 5/12  10 Coherent Sampling
11 Static ADC/DAC Testing 
第13週
 5/19  11 Static ADC/DAC Testing (cont'd)
12 High-Speed Serial Link 
第14週
 5/26  12 High-Speed Serial Link (cont'd) 
第15週
 6/02  exam (01 ~ 08) 
第16週
 6/09  端午節 
第17週
 6/16  Project Presentation 
第18週
 06/23  Low Power Testing